Positive Technologies
Высокий7
CVSS:4.0/AV:P/AC:L/AT:N/PR:N/UI:N/VC:H/VI:H/VA:H/SC:N/SI:N/SA:N

PT-2024-40: Обход уровня защиты от считывания в продуктах GigaDevice Semiconductor

Тип ошибки:

  • CWE-1191: On-Chip Debug and Test Interface With Improper Access Control

Вектор уязвимости:

  • Базовый вектор уязвимости (CVSSv3.1): CVSS:3.1/AV:P/AC:L/PR:N/UI:N/S:C/C:H/I:H/A:H
  • Уровень критичности уязвимости (CVSSv3.1): 7.6 (high)
  • Базовый вектор уязвимости (CVSSv4.0): CVSS:4.0/AV:P/AC:L/AT:N/PR:N/UI:N/VC:H/VI:H/VA:H/SC:N/SI:N/SA:N
  • Уровень критичности уязвимости (CVSSv4.0): 7.0 (high)

Описание уязвимости:

В продуктах серии GD32E23x, GD32F20x, GD32F1x0, GD32F4xx, GD32F30x, GD32C10x, GD32E10x, GD32E50x GigaDevice Semiconductor была выявлена проблема обхода уровня защиты от считывания.

Обнаруженная уязвимость может быть использована злоумышленником для запуска произвольного shell-кода в SRAM.

Статус уязвимости: Подтверждена в ходе исследований

Дата обнаружения уязвимости: 12.04.2023

Рекомендации:

  • Ограничить физический доступ к критически важным устройствам, использующим микроконтроллеры серии GD32E23x, GD32F20x, GD32F1x0, GD32F4xx, GD32F30x, GD32C10x, GD32E10x, GD32E50x.

Прочая информация: Пресс-релиз

Исследователь: Алексей Коврижных (Positive Technologies)

Идентификаторы:

BDU:2024-09909

Вендор:

GigaDevice Semiconductor

Уязвимый продукт:

GigaDevice GD32

Уязвимые версии:

серии GD32E23x, GD32F20x, GD32F1x0, GD32F4xx, GD32F30x, GD32C10x, GD32E10x, GD32E50x.